1. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
2. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
3. Developments in materials characterization technologies: sympsoium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده :
موضوع : Congresses ، Materials-- Testing,Congresses ، Non-destructive testing,Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Metallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
4. Developments in materials charactrization technologies: symposium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده : edited by George F. Vaner Voort, John J. Friel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Materials - Testing - Congresses , Non-destructive testing - Congresses , Materials - Microscopy - Congresses
رده :
TA
410
.
D48
1996
5. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
6. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Materials- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
7. Imaging methods for novel materials and challenging applications.
پدیدآورنده : Helena Jin...[et al.], editors
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Microscopy, Congresses,Nondestructive testing, Congresses
رده :
TA417
.
2
.
I58
2012
8. Miniaturized testing of engineering materials /
پدیدآورنده : V. Karthik, K.V. Kasiviswanathan, Baldev Raj
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Microscopy,Materials-- Testing,Microchemistry
رده :
TA417
.
23
.
K37
2017
9. Symposium on microscopy,presented at the sixty second annual meeting, Atlantic City, N.J., June 25-26, 1959
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Microscopy,Testing ، Materials
رده :
TA
406
.
5
.
A47
1959
10. #Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده : #Gareth Thomas, Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Electron microscopy ،Materials -- Testing
رده :
#
TA
،#.
T48
